AFM+ is het eerste volledig geïntegreerde AFM platform met meerdere analytische mogelijkheden.

Anasys Instruments ontwikkelde de AFM+ voor:
• AFM topografie
• Nano-TA: Thermische analyse in het nanometer bereik voor het bepalen van glasovergangstemperatuur en smelttemperatuur.
• TTM: Transition Temperature Microscopy voor kwantificeren en visualiseren van thermische transities in heterogene monsters.
AFM+ komt standaard ook met Scanning Thermal Microscopy en kan worden uitgebreid tot op het niveau van een nano-IR.

Nano-TA in combinatie met hoge resolutie AFM wordt mogelijk gemaakt door toepassing van de ThermaLever probe. Dit is een probe met een geometrie gelijk aan een typische AFM probe, maar met een geïntegreerd verwarmingselement. De tip van de probe is kleiner dan 30 nanometer.
De ThermaLever probe kan gecontroleerd verwarmen tot een tip temperatuur van 400°C en kan dat met snelheden tot 600.000°C/min.

Met behulp van de AFM informatie kan de locatie gezocht worden waar thermische analyse gewenst is. De probe wordt daar in contact met het monster gebracht en gecontroleerd verwarmd. Net als bij een macroscopische TMA meting zal de probe de thermische uitzetting van het monster volgen tot Tg of Tm en dan in het verwekende monster penetreren.

 
^{AFM en nano-TA analyse van een toner deeltje als voorbeeld van thermische analyse in het nanometer bereik.}

AFM+ is  breed inzetbaar in het onderzoek aan moderne en complexe materialen, zoals bijvoorbeeld, maar niet beperkt tot polymeer blends, meerlaags foliën, composieten, organische systemen, coatings, membranen, energetische materialen en life science materiaal.

Nano-TA is ook leverbaar als optie voor bestaande AFM toestellen!
Vraag naar de mogelijkheden van de nano-TA2 module!